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介電常數(shù)測試儀

簡要描述:LDJD系列介電常數(shù)測試儀是利用高頻Q表法在較高的頻率條件下,測量高頻電感或諧振回路的Q值、電感的電感量和分布電容值、電工絕緣材料的高頻介質(zhì)損耗、高頻回路有效并聯(lián)及串聯(lián)電阻以及傳輸線的特性阻抗等。

  • 產(chǎn)品型號:LDJD系列
  • 廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
  • 更新時間:2024-06-28
  • 訪  問  量:2541

詳細介紹

品牌其他品牌價格區(qū)間2萬-5萬
產(chǎn)地類別國產(chǎn)應(yīng)用領(lǐng)域建材,電子,航天,電氣,綜合
品牌航天偉創(chuàng)

LDJD系列介電常數(shù)測試儀產(chǎn)品:LDJD系列是利用高頻Q表法在較高的頻率條件下,測量高頻電感或諧振回路的Q值、電感的電感量和分布電容值、電工絕緣材料的高頻介質(zhì)損耗、高頻回路有效并聯(lián)及串聯(lián)電阻以及傳輸線的特性阻抗等。

設(shè)備配置:

型號高頻Q表介質(zhì)損耗測試夾具電桿組液體杯
LDJD-A

QBG-3E改進型

(10KHz-70MHz)

S916LKI-1選配
LDJD-B

QBG-3F改進型

(10KHz-110MHz)

S916LKI-1選配
LDJD-C

AS2853A改進型

(100KHz-160MHz)

S916LKI-1選配

LDJD介電常數(shù)測試儀的適用范圍:

GB/T 1409-2006 《測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻(包括米波波長在內(nèi))下電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)的推薦方法》(等效IEC 60250:1969);

GB/T 1693-2007 《硫化橡膠 介電常數(shù)和介質(zhì)損耗角正切值的測定方法》;

ASTM D150 《Standard Test Methods for AC Loss Characteristics and Permittivity (Dielectric Constant) of Solid Electrical Insulation》;

適用于測量液體、易熔材料以及固體材料。測試結(jié)果與某些物理條件有關(guān),例如頻率、溫度、濕度,在特殊情況下也與電場強度有關(guān);

什么是介電常數(shù)?

介電常數(shù)εr電容器的電極之間及電極周圍的空間全部充以絕緣材料時,其電容Cx與同樣電極構(gòu)形的真空電容C0之比:

(1)式中:

εr——相對電容率;

Cx——充有絕緣材料時電容器的電極電容;

C0——真空中電容器的電極電容。

在標準大氣壓下,不含二氧化碳的干燥空氣的相對電容率εr等于1.00053。因此,用這種電極構(gòu)形在空氣中的電容Ca來代替C0測量相對電容率εr時,也有足夠的精確度。

在一個測量系統(tǒng)中,絕緣材料的電容率是在該系統(tǒng)中絕緣材料的相對電容率εr與真空電氣常數(shù)ε0的乘積。

在SI制中,絕對電容率用法/米(F/m )表示。而且,在SI單位中,電氣常數(shù)ε0為:

(2)用皮法和厘米來計算電容,真空電氣常數(shù)為:

(3)什么是介質(zhì)損耗。

介質(zhì)損耗角 δ由絕緣材料作為介質(zhì)的電容器上所施加的電壓與由此而產(chǎn)生的電流之間的相位差的余角。

介質(zhì)損耗因數(shù)  tanδ:損耗角δ的正切。


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